掃描電鏡(說一說掃描電鏡的簡介)
發(fā)布日期:2023-05-28 00:00:02 來源: 編輯:
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1、掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段。
2、可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
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