sem和tem的主要應(yīng)用有哪些（TEM和SEM有什么區(qū)別）
發(fā)布日期：2023-04-06 20:32:06 來源： 編輯：
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1、透射電鏡(TEM)的放大倍數(shù)要比掃描電鏡(SEM)的高,當(dāng)然兩則的成像原理也是不同的，如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況，你就必須要用TEM來觀察了，SEM通常看材料的缺口斷面，當(dāng)然還有許多其他應(yīng)用。
2、 SEM是電子束激發(fā)出表面次級(jí)電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達(dá)幾百w倍,而SEM只有幾萬倍. 掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個(gè)能譜儀,可以進(jìn)行能譜掃描.其放大倍數(shù)相對(duì)較低,操作方便,樣品制作簡單,對(duì)于高聚物,須進(jìn)行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu),粒子的分散等.其放大倍數(shù)高于SEM,但也不是絕對(duì),現(xiàn)在有些掃描電鏡的放大倍數(shù)也可以很高.其操作較復(fù)雜,樣品制作也較為煩瑣。
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標(biāo)簽： TEM和SEM有什么區(qū)別
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