在Opto-Electronic Advances的新出版物中，加拿大安大略省安大略理工大學(xué)的 Shreeniket Joshi 和 Amirkianoosh Kiani 討論了用于預(yù)測 3D 納米網(wǎng)絡(luò)硅結(jié)構(gòu)的光學(xué)常數(shù)和帶隙能量的混合人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和分析模型。

本研究介紹了一種可靠的方法來確定新型硅薄膜(納米材料)的光學(xué)特性。通過用脈沖激光束轟擊硅晶片，在玻璃上沉積硅薄膜。由于可用的實驗數(shù)據(jù)有限，尋找新型納米材料的光學(xué)特性具有挑戰(zhàn)性?，F(xiàn)有的用于尋找光學(xué)特性的模型被發(fā)現(xiàn)復(fù)雜且容易出錯，本研究提出了一種將分析模型與人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)合使用的新方法。使用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目的是開發(fā)一種數(shù)學(xué)函數(shù)來預(yù)測新型薄膜的光學(xué)常數(shù)。發(fā)現(xiàn)提出的這種方法的準(zhǔn)確率為 95%。

安大略理工大學(xué)的 Amirkianoosh Kiani 博士的研究小組提出了這項研究，以尋找新型硅薄膜的光學(xué)特性，并且該方法得到了準(zhǔn)確可靠的確鑿證據(jù)的驗證。對于透明的新型材料，可以使用透射率和反射率的實驗數(shù)據(jù)來確定光學(xué)特性。然而，對不透明材料做同樣的事情是具有挑戰(zhàn)性的，因為在這種情況下只有反射率數(shù)據(jù)可用。這項研究可用于建立可用實驗數(shù)據(jù)之間的數(shù)學(xué)關(guān)系，并顯示出僅從反射率數(shù)據(jù)預(yù)測不透明材料光學(xué)特性的潛力。

此外，發(fā)現(xiàn)本研究中討論的新型硅薄膜的光學(xué)特性具有 1.648 的能帶隙，該值接近用于收集太陽能的材料。由于硅 薄膜具有驚人的表面積，因此可以證明具有這種能帶隙的材料在太陽能應(yīng)用中非常高效。該研究小組還打算使用這種方法來激發(fā)生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用中使用的二氧化鈦、金納米粒子等材料。

　　免責(zé)聲明：本文由用戶上傳，與本網(wǎng)站立場無關(guān)。財經(jīng)信息僅供讀者參考，并不構(gòu)成投資建議。投資者據(jù)此操作，風(fēng)險自擔(dān)。 如有侵權(quán)請聯(lián)系刪除！